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    光炎量子效率分析儀光傳感器晶圓測試儀

    光炎量子效率分析儀光傳感器晶圓測試儀

    簡要描述：光炎量子效率分析儀光傳感器晶圓測試儀是一款 CIS /ALS / Light-Sensor 晶圓測試儀，它結合了高度均勻的光源和半自動晶圓探測器。

    產品型號： SG-O

    所屬分類：光焱量子效率分析儀

    更新時間：2023-08-03

    廠商性質：經銷商

    留言詢價聯系我們
    詳情介紹
    品牌其他品牌應用領域醫療衛生,化工,生物產業,能源,電子

    提供您在 CIS / ALS / 光傳感器晶圓級測試中所需的一切。

    SG-O 是一款 CIS /ALS / Light-Sensor 晶圓測試儀，它結合了高度均勻的光源和半自動晶圓探測器。高度均勻光源可以提供從 400nm 到 1700nm 的連續白光光譜，以及在許多不同波長下具有一定 FWHM 的單色光輸出。探測器可以處理大。200mm 晶圓尺寸和尺寸大于 1cm x 1cm 的單芯片。SG-O 集成了超低噪音熱卡盤，可提供 -60°C 至 180°C 的溫度范圍，具有快速的升溫速度和穩定性。SG-O 提供您在 CIS / ALS / 光傳感器設計驗證或工藝良率檢查中所需的一切。

    特點


    高度均勻的光源

    • 從 UV 到 SWIR 的寬光譜范圍

    • 超過 50mm x 50mm 區域的高度均勻性超過 98%

    • 超穩定光強度，可維持不穩定性 < 0.2% 長達10小時以上

    • 高光強動態范圍，高達 140dB

    可編程自動探測器

    • 200mm ~ 10mm 晶圓或芯片處理能力

    • 用于準確可靠的 DC / CV、RF 測量

    • 穩定的功能顯微鏡系統

    • 整合硬件控制面板

    • 自動晶圓裝載機

    • 智能晶圓映射

    寬溫低噪音卡盤

    • 模塊化卡盤

    • -80°C 至 180°C 的寬溫度范圍

    • * CDA 熱控制技術，高斜坡率和高 T 穩定性

    • 用于 CIS / ALS/ 光傳感器晶圓測試的超低噪聲

    應用


    • CIS / ALS / 光傳感器晶圓測試

    • CIS / ALS / 光傳感器晶圓映射和良率檢查

    • ToF 傳感器測試

    • 激光雷達傳感器測試

    • InGaAs PD 測試

    • SPAD 傳感器測試

    • 光傳感器模擬參數測試：

      1. 量子效率

      2. 光譜響應

      3. 系統增益

      4. 靈敏度

      5. 動態范圍

      6. 暗電流/噪聲

      7. 信噪比

      8. 飽和容量

      9. 線性誤差（LE）

      10. DCNU（暗電流非均勻性）

      11. PRNU（光響應非均勻性）

    系統設計

    SG-O CIS / ALS / Light-Sensor 測試儀（晶圓級）系統圖。高度均勻的光源由 PC-1 控制。光輸出由光纖引導到光學均化器以產生均勻的光束。顯微鏡和均質器由 PC-1 的自動平移臺控制，以切換位置和功能。Prober 系統為 MPI TS2000，由 PC-2 控制?？ūP臺的位置也由 PC-2 控制。熱卡盤溫度可控制在 -55 ℃ 至180 ℃ ，涵蓋了大部分 IC 測試溫度范圍。光強度由一個 Si 光電探測器和一個 InGaAs 光電探測器通過皮安電流表檢測和校準。

    規格


    高度均勻的光源

    • 光譜范圍：400nm 至 1700nm

    • 色溫：3000K 至 5200K

    • 均勻照明面積：42mm x 25mm，工作距離 >200mm

    • 照度均勻度：優于98%

    • 短期光不穩定性：≤ 1% 超過 1 小時

    • 長期光不穩定性：≤ 1% 超過 10 小時

    • DUT與后一個光學組件之間的工作距離：≥200mm工作距離

    • 單色光生成：

    1. 10nm FWHM 中心波長：420nm, 450nm, 490nm, 510nm, 550nm, 570nm, 620nm, 670nm, 680nm, 710nm, 780nm, 870nm

    2. 25nm FWHM 中心波長：1010nm, 1250nm, 1450nm

    3. 45±5nm FWHM 中心波長： 815nm

    4. 50nm FWHM 的中心波長：1600nm

    5. 60±5nm FWHM 中心波長：650nm

    6. 70±5nm FWHM 的中心波長：485nm, 555nm

    7. 100±5nm FWHM 的中心波長：1600nm

      • 帶外透光率 ≤ 0.01%

      • 帶通區峰值傳輸 ≥ 80%

      • 中心波長容差：(a) ≤ ±2nm；(b)~(g) ≤ ±5nm

      • FWHM 容差：(a) ≤ ±2nm；(b)~(g) ≤ ±5nm

    • 可變衰減器：PC 控制的 3-decade 分辨率，至少 1000步

    半自動晶圓探針

    • 晶圓尺寸能力：200mm、150mm、100mm 晶圓和尺寸大于 1cm x 1cm 的單芯片

    • 晶圓處理：單晶圓，手動進料型

    • 半自動化：一步手動對準教和自動模步進

    • XYZ 平臺

    • 卡盤 XY 載物臺行程：210mm x 300mm

    • 卡盤 XY 平臺分辨率：優于 0.5um

    • 夾頭 XY 平臺精度：優于 2.0um

    • 卡盤 XY 平臺速度：慢：10 微米/秒，快：50 毫米/秒

    • Chuck Z 載物臺行程：50mm

    • Chuck Z 平臺分辨率：0.2um

    • 卡盤 Z 平臺精度：±2.0um

    • Theta 平臺

    • Theta 載物臺行程：± 5 度運動范圍

    • Theta 分辨率：優于 0.01 度

    • Theta 精度：0.1 度

    • 卡盤

    • 卡盤平整度 ≤ 10um

    • 卡盤熱操作：-60°C 至 200°C

    • 25°C 時的卡盤泄漏： 25°C 時在 10V 偏壓下每個電壓 ≤ 20fA

    • 卡盤剩余電容 ≤ 95fF

    • 探針卡

    • 探針卡尺寸：4.5 英寸至 8 英寸長

    • 探針卡座與壓板之間的間隙：≥ 7.5mm

    • 微型腔室

    • EMI 屏蔽：在 1kHz 至 1MHz 范圍內 ≥ 30dB

    • 系統交流噪聲：≤ 5mVp -p

    • 微型定位器

    • 顯微鏡

    • 隔振臺

    光譜輻照度計

    • 光譜范圍：400nm 至 1600nm

    • 波長分辨率：400nm 到 1000nm 增加步長 < 1nm；1000nm 到 1600nm 增加步長 < 3.5nm

    • 校準：NIST 可追溯校準證書

    主要表現

    SG-O 系統的操作軟件。對于高度均勻光源控制軟件，SG-O 提供光源系統控制和光強測量。提供了各個光學組件的 Labview 功能調色板、驅動程序 / DLL 文件。該軟件控制所述平移臺以促進照射大是在零件的設備。集成鏈接的整合包括發送 / 接收命令，例如芯片步進、芯片對齊 / 探測等。



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