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    光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀

    光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀

    簡要描述:光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀是一個商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。SG-A 可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數表征,如全光譜量子效率 QE、整體系統增益 K、時間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動態范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和射線角 CRA。

    產品型號: SG-A

    所屬分類:光焱量子效率分析儀

    更新時間:2023-08-03

    廠商性質:經銷商

    詳情介紹
    品牌其他品牌應用領域醫療衛生,化工,生物產業,能源,電子

    快速安裝和快速部署可以幫助您加快上市時間

       SG-A 系統是一個商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。SG-A 可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數表征,如全光譜量子效率 QE、整體系統增益 K、時間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動態范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和射線角 CRA。被測設備可以是幾種類型的 CMOS 圖像傳感器模塊。檢驗程序符合 EMVA 1288 標準。因此,SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀可用于進行晶圓級光學檢測、加工參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀的高度準直光束(<1°)可以克服傳統光學系統(如積分球系統)無法解決的新制造工藝的檢測困難。這些工藝包括小像素(< 1 um)、BSI 和 3D 堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等等。

    特色
    • 無損光學檢測。

    • 高度準直梁角 / 高準直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型號)

    • 高均勻光束點:≥ 99%。

    • 光的不穩定性 ≤1%。

    • 高動態范圍測試能力:80dB ~ 140dB(不同型號)。

    • 可以測試 CMOS 圖像傳感器參數。量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動態范圍、暗電流 / 噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差(LE)、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光響應不均勻性)、CRA(射線角)。

    • 全光譜波長范圍:300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm(PTC)。

    • 波長可擴展至 1700 納米以上。

    • DUT 封裝:CIS 模塊,PCB 板級,CIS 攝像頭,有 / 無微透鏡。

    • SG-A 和 DUT 之間的 “直接 “或 “握手 “通信協議。

    • 定制的測試夾具和平臺(手動或自動,多 6 軸)。

    • 強大的分析軟件 ARGUS®。

    • 應用:指紋識別(CIS + 鏡頭,CIS + 準直器,TFT 陣列傳感器)CIS 的微透鏡設計,晶圓級光學檢測,CIS DSP 芯片算法開發,Si TFT 傳感器面板,飛行時間相機傳感器,接近傳感器(量子效率,靈敏度,線性度,SNR 等),d-ToF 傳感器,i-ToF 傳感器,多光譜傳感器,環境光傳感器(ALS),指紋顯示(FoD)傳感器。

    規格


    SG-A 型 CMOS 圖像傳感器測試儀的功能非常強大,因此相關的規格和配件也非常齊全。請與我們聯系,以了解更多細節和選擇咨詢, 以下是主要的能力規格:

    – 全光譜的波長范圍:300 – 1100 納米或 350 – 1000 納米(PTC)。
    – 波長范圍可以擴展到 1700 納米或更高。
    – 單一波長源。470 納米, 530 納米, 630 納米, 940 納米(±5納米)或自定義。
    – 動態范圍:80dB、100dB 或 140dB。
    – 測試夾具:DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或訂制。
    – 平臺:無,手動 3 軸或 6 軸(手動 + 自動)平臺(可訂制)

    應用范圍


    • 指紋識別(CIS + 鏡頭,CIS + 準直器,TFT-陣列傳感器)

    • CIS 的微透鏡設計,晶圓級光學檢查

    • CIS DSP 芯片的算法開發

    • Si TFT 傳感器面板

    • 飛行時間相機傳感器

    • 近距離感應器 (量子效率、靈敏度、線性度、SNR 等)

    • d-ToF 傳感器,i-ToF 傳感器

    • 多光譜傳感器

    • 環境光傳感器 (ALS)

    • 指紋顯示(FoD)傳感器



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