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    光炎量子效率光傳感器特性分析儀

    光炎量子效率光傳感器特性分析儀

    簡要描述：光焱科技新推出光炎量子效率光傳感器特性分析儀PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。

    產品型號： PD-QE

    所屬分類：光焱量子效率分析儀

    更新時間：2023-08-03

    廠商性質：經銷商

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    光焱科技新推出PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。


    光焱科技新推出PD-QE測試系統，針對第三代半導體材料Photodiode/Photodetector的相關特性測試，整合新高精密直流可耐電壓偵測技術，與傳統交流模式下測量EQE使用鎖相放大器、電壓無法加過12V相比，該系統高可輸出1000V高壓，電流量程為2pA，精度達0.1fA，可滿足客戶多種量測需求。

    設備特點

    1. 使用均勻光斑的"照度模式" (Irradiance Mode) 符合ASTM E1021；

    2. 取代傳統聚焦小光斑，可以測試um等級的光電傳感器；

    3. 均勻光斑可以克服色散差與像差的問題，可準確測得EQE曲線；

    4. 可搭配多種探針臺系統，實現非破壞性的快速測試；

    5. 集成的光學與測試系統，提高系統搭建效率；

    6. 一鍵式自動化測試軟件，自動全光譜校正與測量，工作效率高。

    測試特性

    • 外部量子效率EQE

    • 光譜響應SR

    • I-V曲線測量

    • NEP光譜測量

    • D*光譜測量

    • Noise-current-frequency響應圖 (A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz)

    • Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析








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